《現(xiàn)行
光學(xué)元件檢測(cè)與國(guó)際
標(biāo)準(zhǔn)》徐德衍 王青等編著，
科學(xué)出版社2009版，共14個(gè)壓縮
文件。
QO(P_az3mg ~_Q1+ ax} 該書(shū)重點(diǎn)介紹了
光學(xué)元件檢測(cè)領(lǐng)域的近期進(jìn)展、方法、技術(shù)和需求。全書(shū)共10章，主要論述了現(xiàn)代光學(xué)的發(fā)展對(duì)光學(xué)元件檢測(cè)的需求；計(jì)量概念與誤差及
精度的必要知識(shí)；光學(xué)元件檢測(cè)基礎(chǔ)；光學(xué)元件的
參數(shù)檢測(cè)和性能檢測(cè)的現(xiàn)行技術(shù)，側(cè)重對(duì)特殊元件、光學(xué)表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等內(nèi)容的敘述；介紹了光學(xué)元件技術(shù)要求和檢測(cè)要求的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（ISO10110）的最新內(nèi)容和相關(guān)的輔助
資料。《現(xiàn)行光學(xué)元件檢測(cè)與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)》附錄匯總了光學(xué)檢測(cè)中4個(gè)常用的資料及相關(guān)的參考書(shū)籍。
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