對于光學(xué)表面的評價(jià)，可以有兩個(gè)重要指標(biāo)：表面面形和表面粗糙度。一般地，光學(xué)表面面形通過干涉儀來測量；而粗糙度一般采用光學(xué)輪廓儀或掃描探針顯微鏡測量。我們這里主要討論粗糙度的測量問題。 9BP-Iet  
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    對于小尺寸元件來說，這些方法都是可行的。然而，對于大尺寸元件，比如口徑大于300mm或500mm甚至1m的元件，很多方法都受到了測量環(huán)境的限制。 ig6F!p  
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    除粗糙度要求接近0.1nm RMS的表面外，一般光學(xué)表面都采用光學(xué)輪廓儀測量。這種方法比較直接，操作簡單。但是在使用中，都要求在隔振平臺。這是由于這類儀器的原理導(dǎo)致的，雖然是近距離的測量，但是振動會對這種納米級測量帶來噪聲誤差，從而導(dǎo)致測量失敗。 D ,nF0p  
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    光學(xué)輪廓儀對于振動噪聲的要求，比普通干涉儀更苛刻，因?yàn)槠?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=分辨率',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_7">分辨率要求在納米級。因而很難做出滿足要求的大尺寸的隔振平臺。這也限制了輪廓儀測量的元件的尺寸。因此，目前對于大尺寸的光學(xué)元件的粗糙度測量，一般無法直接測量。 _di[P
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    動態(tài)光學(xué)輪廓儀NanoCam Sq，就是在這種情況下出現(xiàn)的。 這臺設(shè)備在2011年的美國光博會上首次亮相。這臺設(shè)備主要解決了兩個(gè)測量難題：1）復(fù)雜現(xiàn)場環(huán)境下的粗糙度測量；2）大尺度鏡面的粗糙度測量。 <%!EI@
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    原理： 經(jīng)典的顯微相移干涉原理（PSI），只是在同一時(shí)間獲得所有的相位信息。4D將他們的動態(tài)相移干涉技術(shù)擴(kuò)展到了顯微干涉術(shù)，從而開發(fā)出了這種動態(tài)光學(xué)輪廓儀。 'Je;3"@  
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