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紫外可見紅外掃描分光光度計  新一代設(shè)計的 PHOTON RT 是一款專業(yè)用于檢測光學部件鍍膜特性的分光光度計，根據(jù)光譜范圍可以選擇六種配置（190-1700nm,190-2700nm,190-4500nm,380-1700nm,380-2700nm與380-4500nm)。最寬光譜范圍可從190nm-4500nm。 該儀器的設(shè)計改變了行業(yè)的測量觀念，致力于提供最簡潔、最靈活與速度最快的操作。無需任何額外附件與成本，可以實現(xiàn)寬角度的的絕對反射率與絕對透射率測量，以及實現(xiàn)偏振模式測量。 獨創(chuàng)設(shè)計的分光光度計包含參考通道，能對直徑范圍從10mm到120mm的光學部件進行測量研究。 基于光譜光度逆向工程可以測量紫外可見近紅外全光譜范圍內(nèi)薄膜材料的折射率n、吸收系數(shù)k與薄膜厚度d, 確保了強大的QA/QC分析與研究開發(fā)。 Photon RT分光光度計確保高精度高重復性測量，光譜分辨率高達1.2nm，光度計的精度最高優(yōu)于0.0002，符合各類研究分析的現(xiàn)代需求。 裝置結(jié)實緊湊，可保證每天的頻繁使用。主機有一個大的蓋子，為測量艙提供一個簡單和方便的通道，光學部件可快速安全放置。 |
