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光學(xué)表面瑕疵（光潔度）檢驗(yàn)權(quán)威  SIF.rar (360 K) 下载次数:20  大家好，今天向大家推薦一款光學(xué)表面瑕疵的權(quán)威檢測(cè)設(shè)備。 SavvyInspectorTM SIF-4 是美國(guó)savvy 光學(xué)公司針對(duì)工廠車(chē)間開(kāi)發(fā)的一款光學(xué)表面劃痕/麻點(diǎn)檢驗(yàn)系統(tǒng)。結(jié)合專(zhuān)門(mén)的分析軟件及照明裝置來(lái)對(duì)平面光學(xué)表面的劃痕/麻點(diǎn)情況進(jìn)行客觀檢測(cè)，打破了長(zhǎng)久以來(lái)靠人眼觀察光學(xué)表面瑕疵的傳統(tǒng)，消除了人為判斷的主觀性。使得該系統(tǒng)在劃痕/麻點(diǎn)檢驗(yàn)過(guò)程中，具有客觀、重復(fù)性高、數(shù)據(jù)可記錄等優(yōu)點(diǎn)。 產(chǎn)品應(yīng)用： 光學(xué)表面瑕疵（劃痕/麻點(diǎn)）檢測(cè) 產(chǎn)品特點(diǎn) l 支持美國(guó)軍標(biāo)MIL-PRF-13830B、 MIL-C-675C、美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)ANSI/OEOSCOP1.002:2009Visibility Method。 2 樣品要求：鍍膜或非鍍膜元件，平面或大曲率凹面。 3 檢測(cè)報(bào)告值：劃痕數(shù)-10,20,40,60,80麻點(diǎn)值-從5到70，同時(shí)還可測(cè)量劃痕長(zhǎng)度。 |
