Intelliwave，是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件，通常用于量測許多表面（材料）的外形。
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/bk, f UC9 -?(K Intelliwave 干涉條紋分析仿真軟件
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Intelliwave是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件，通常用于量測許多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括鏡子、透鏡、半導體芯片、和其它許多反射或不反射的表面。為了推斷鏡片表面外形，Intelliwave需要制造一個光學相位差來獲得干涉圖形，因為干涉條紋圖是干涉儀中的測試光及參考光的光程差而形成，藉著干涉圖形的處理，主要在于鑒定待測光學儀器的表面外型。Intelliwave 結合了攫取、輸入、分析、以及許多實際干涉圖形文檔等等特性，更提供了強大、快速、靈活性、容易使用、還有廣泛數據信息的優(yōu)點。
3&'2aW [SVhtrx|% Intelliwave 應用的領域：
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T]y GCDwWCxh 高功率激光的外型和反射特性的量測
%$@1FlqX; z{9=1XY 極溫度（ Extreme Temperature）的應用
f-;$0mTQ I>PZYh'.T 天文上的應用 : 天文鏡片、天文望遠鏡
TZ[Zm 1y
J5l,q 光學量測
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