目前在嘗試用LightTools來分析
雜光,因為TracePro光線多了會追死掉。。。。。另,暫不考慮
ASAP(基礎(chǔ)太弱,學(xué)習(xí)其語言要一段時間,可能后期考慮)
n-WvIy %uMsXa 遇到關(guān)于膜層設(shè)置和表面
反射率設(shè)置的問題
#r}c<?>Vw J(L$pIM 關(guān)于膜層設(shè)置:
w-/Tb~#E 1.在TracePro里定義膜層時,給各
材料厚度,然后定義表面屬性就ok,膜層的前后介質(zhì)TP好像是會自動計算的(不知道我理解的對不會);
[a6lE"yr 2.但是在LT里面定義膜層時,根據(jù)說明書里的thin film的txt文件格式好像就直接要求有參考
波長與每種材料厚度(這個具體給哪個比較合適?給
物理波長還是1/4波長,主要部門也沒人弄
鍍膜,先前的鍍膜屬性
文件也不是他們建的,問他們好像也不確定,所以比較糾結(jié)),然后LT里對膜層的前后介質(zhì)也會有直接要求,如果top的介質(zhì)是air 給1的話,那bottom的stack是不是就是給要鍍膜的
透鏡的介質(zhì)?那如果這樣,豈不是每次鍍不同的透鏡表面(材料介質(zhì)不一樣,那txt文件里面的stack就要重設(shè)?),都要定義一個新膜層文件,不能像TP中那樣通用嗎?
v:b%G?o `;hBO#(H0} 關(guān)于反射率設(shè)置:
6P$q7G
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