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中科院光電所首次提出疊層空間調(diào)制相位差技術(shù) 相位差技術(shù)集波前測(cè)量和圖像復(fù)原于一體，對(duì)目標(biāo)沒有特定的要求，不僅適用于點(diǎn)目標(biāo)，而且適用于擴(kuò)展目標(biāo)，并且具有光路簡(jiǎn)單、不存在非共路誤差等優(yōu)點(diǎn)，已成為國際上的研究熱點(diǎn)。傳統(tǒng)的相位差技術(shù)利用焦面和離焦面產(chǎn)生差異圖像，要求CCD采樣頻率必須滿足奈斯奎特采樣定律。對(duì)于欠采樣系統(tǒng)，像素重疊現(xiàn)象將導(dǎo)致子圖像的許多高頻成分被誤采樣為低頻成分，從而極大影響相位差技術(shù)的測(cè)量精度。 該研究首次提出疊層空間調(diào)制相位差的概念，將相位差法推廣至欠采樣系統(tǒng)。利用小孔光闌對(duì)大口徑光瞳面進(jìn)行空間限制，使采集的子圖像滿足采樣定律。小孔在掃描過程中相互交疊，交疊部分提供相同相位信息，非交疊部分提供相位差異。這樣由小孔疊層掃描得到的一組子圖像都是過采樣的，在算法探測(cè)過程中不會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤的頻率信息，從而極大提高了相位差法對(duì)欠采樣系統(tǒng)的測(cè)量精度。 |
