| xunjigd |
2019-04-22 09:43 |
VirtualLab:干涉條紋研究
干涉測(cè)量是用于精確測(cè)量中最廣泛應(yīng)用的技術(shù)之一。通過(guò)觀(guān)察和研究條紋圖案,可以判斷表面形狀質(zhì)量或關(guān)于光譜帶寬的儀表信息。利用VirtualLab Fusion中非序列場(chǎng)追跡技術(shù),可以輕松地設(shè)置和分析光學(xué)干涉儀。在這里提出兩個(gè)經(jīng)典的基于邁克爾遜干涉儀的例子:一個(gè)高質(zhì)量相干激光光源,另一個(gè)寬帶白光光源。 $3FFb#r _~6AUwM 基于激光的邁克爾遜干涉儀 #opFUX- ww[STg
[attachment=92721] hNP| 借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術(shù)建立了該邁克爾遜干涉儀,并展示了不同配置中的干涉條紋。 Q%@l`V)Rs )0/DY 白光邁克爾遜干涉儀 A87Tyk2Pi _{-GR
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