morningtech:晶控儀測量速率,并且只能通過調節(jié)功率來調整速率(PID)。(調節(jié)功率來調整沉積速率,容易理解和實現。) ^3FE\V/= 而無視光斑、掃描、材料多少、真空度等工藝參數,因為晶控儀還沒有調整這些參數的手段和方法。 P7f,OY<@%o 光斑位置,掃描頻率和幅度,材料蒸發(fā)有什么特點、能做多厚膜,材料減少過程 .. (2019-07-15 19:59) gxMfu?zk"