Macleod：吸收工具
一個膜系的吸收率是一個可以計算的參數(shù)，它能與反射率和透射率一起作為二維和三維圖的可選參數(shù)列出。此外，還有兩個工具可以處理吸收率，它們隱藏在設(shè)計分析部分，即Absorptance Rate和Total Absorptance。這兩個工具到底是做什么的？ s1| +LT ,D
d9>k5!
吸收率是一種測量膜層損失能量的方法。嚴格地說，它應該是轉(zhuǎn)化成熱量的東西，但通常只把它作為反射光和透射光中所缺少的東西的一種度量。因為與真正的吸收相比，大多數(shù)其他的損耗通常都很小，而且由于它們和吸收一樣，與電場振幅的平方成正比，所以任何差別都很小。不管怎樣，大多數(shù)工程師都喜歡對總損失進行衡量。對于Essential Macleod而言，薄膜材料的消光系數(shù)就是與吸收相關(guān)的參數(shù)。它所代表的損失取決于它的測量方法。因此我們寫了一個光學薄膜 <!qv$3/7
IS9}@5`'
1=R+T+A (1) @+ (TM5Ub
如果結(jié)果以百分比表示，則左側(cè)變?yōu)?00。這就是設(shè)計吸收率的計算方法。 d5z?QI
1O{x9a5Z?O
現(xiàn)在讓我們考慮一層厚度為dt的薄層埋在膜層內(nèi)。每單位面積薄層中的功率損失將是凈入射輻照度（Ienter）和凈出射輻照度（Iexit）之間的差值。這可以通過各種方式進行操作。 g k.c"$2
A0>u9Bn"Qw
將入射到整個涂層上的輻射強度設(shè)為Iincidence，薄片的吸收率為dA，勢吸收率為da。則 Jfs$VGZP;
WP b4L9<
[attachment=94870] （2） j4hiMI ;
[attachment=94871] （3） 然后，膜層中的總吸收率簡單地是（2）在膜厚度上的積分。 ~=xS\@UY =
se:lKZZ]
圖1顯示了使用具有無吸收低折射率材料（SiO2）和輕微吸收的高折射率材料（TiO2）薄膜的窄帶濾光片的一些結(jié)果。電場分布的平方很好地解釋了吸收率變化。勢吸收率幾乎相同，因為反射率為零，但膜層前面部分的吸收降低了墳墓上的Ienter的值，因此膜層后部的吸收率逐漸增加。 3x U i n
}&I^1BHZs
[attachment=94872] RO10$1IW.2
[attachment=94873] 圖1.具有吸收高折射率材料和無吸收低折射率材料的窄帶濾光片的計算。由于反射率為零，吸收率和勢吸收率幾乎相同。 PIxd'B*MF
（來源：訊技光電）
|