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infotek

2020-11-17 10:36

光學(xué)相干斷層掃描的上皮散射自發(fā)熒光強(qiáng)度校正——一個(gè)模型的研究

文章來(lái)源：H. Pahlevaninezhad , A. M. D. Lee , C. Hyun - Spie Bios – 2013 Proc. of SPIE Vol. 8565 85652S-2

本文以實(shí)驗(yàn)結(jié)合光學(xué)軟件FRED來(lái)驗(yàn)證熒光介質(zhì)上覆蓋散射層的影響，結(jié)合AF-OCT系統(tǒng)能夠減少由于上皮組織增厚引起的假陽(yáng)性，增強(qiáng)AF疾病檢測(cè)的功效。

摘要：