使用干涉儀的光學(xué)測量
光學(xué)計量學(xué)是精確測量的重要技術(shù)。例如，它經(jīng)常被用于表面測試，因此在質(zhì)量控制中發(fā)揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉儀進行建模，并將不同的光學(xué)表面和系統(tǒng)部件、甚至是傾斜和位移等對準錯誤都包含在模擬中。我們以兩個廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進行演示。 (PmaVwF
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Mach-Zehnder干涉儀 Z
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我們在VirtualLab Fusion中建立了一個Mach-Zehnder干涉儀，并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。 b{o%`B*
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用于光學(xué)檢測的Fizeau干涉儀 F(i@Gm=J]
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在非序列場追跡技術(shù)的幫助下，建立了一個Fizeau干涉儀，并顯示了幾個不同測試面的干涉條紋。 CYZx /r<
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QQ：2987619807 >
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