| infotek | 2021-04-21 10:58 |
利用邁克爾遜干涉儀和傅里葉變換光譜法測(cè)量相干性在干涉儀中，條紋的對(duì)比度可能取決于光源的相干特性。例如，在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨光程差的不同而變化。通過(guò)測(cè)量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得到光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅里葉變換光譜通常基于這種類型的光路。  建模任務(wù)  橫向干涉條紋——50 nm帶寬  | |
| 首頁(yè) -> 登錄 -> 注冊(cè) -> 回復(fù)主題 -> 發(fā)表主題 |
|
| ||||