使用部分相干光的楊氏干涉實(shí)驗(yàn)
雙縫干涉實(shí)驗(yàn)最初由Thomas Young在19世紀(jì)初進(jìn)行,它顯示了光的波動(dòng)性質(zhì),是空間相干測(cè)量的重要技術(shù)。在VirtualLab Fusion中,我們用單點(diǎn)光源和擴(kuò)展光源復(fù)現(xiàn)了Young的實(shí)驗(yàn)。我們通過(guò)檢查干涉條紋對(duì)比度的變化來(lái)研究擴(kuò)展源的相干特性。 pp
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楊氏干涉實(shí)驗(yàn) R+Ug;r-[ ^Q!A4qOQ aHNn!9#1 在 VirtualLab Fusion中,我們復(fù)現(xiàn)了著名的楊氏干涉實(shí)驗(yàn),并檢驗(yàn)了狹縫寬度、狹縫距離以及使用擴(kuò)展源的影響。 G^/8^Zi JbXi|OS/
zIU6bMMT3u 編程一個(gè)雙縫函數(shù) Go[anf <DEu]-'> LftGA7uGJ) 給出了一個(gè)用于定義雙狹縫函數(shù)的示例片段,該函數(shù)具有可自定義的狹縫寬度和狹縫之間的距離。 e_1L J :G5O_T$ _0Y?(} QQ:2987619807 wV4MP1c$
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