Runsheet和Monitorlink Enhancements

•對反射和透射監(jiān)控計算光學信號 Mu`_^gG  
•當膜層沉積時，動態(tài)加工因子（Dynamic Tooling Factors）可以不同 8m' f8.x  
•信號數據可以適應自定義范圍 +I5\`By=  
•對每個膜層，監(jiān)控波長和帶寬都可以改變 I= :yfW  
•對每個膜層可以用不同的校驗芯片 agwbjkU/  
•Monitorlink 可以將沉積設計反映到光學和晶體監(jiān)控上 GEy7Vb)  
•監(jiān)控數據的圖表可以為手動監(jiān)控打印出來 o`Z3}  
Runsheet和Monitorlink特點 `uPO+2  
RUNSHEET操作 wwdmz;0S  
要建立一個runsheet, 在Essential Macleod中打開一個空白表格, 指定設計和機器配置，然后點Calculate。 Runsheet會自動指定光源、使用加工因子，計算信號。用戶可以改變所以參數中任何一個，如指定光源、監(jiān)控芯片、波長、帶寬。點擊Calculate，run sheet立即更新。除了計算機的容量以外，對膜層數、芯片數等沒有實際限制。 tZ62T{, a  
Runsheet計算信號偏移的表格和曲線。通過可以應用到單個膜層的0偏移和放大的控制，可以適應自定義的范圍。根據信號的水平和最后一個峰－峰偏移的比例，表格中出現膜層終止信息。 rR@]`@9