成人女人看片免费视频放人_亚洲色精品三区二区一区_欧美亚洲国产精品久久_成人无遮挡裸免费视频在线观看_97SE亚洲国产综合在线_精品久久久久久777米琪桃花_天天躁日日躁很很很躁_色噜噜狠狠一区二区三区果冻_国产免费久久精品国产传媒_67194成是人免费无码

首頁 -> 登錄 -> 注冊 -> 回復(fù)主題 -> 發(fā)表主題

光行天下 -> 光電資訊及信息發(fā)布 -> 薄膜測量設(shè)備（膜厚、n、k等） [點(diǎn)此返回論壇查看本帖完整版本]

[打印本頁]

george1977	2007-03-15 10:44
薄膜測量設(shè)備（膜厚、n、k等）美國Filmetrics公司F20系列薄膜測量設(shè)備：可精確快速測量各種光學(xué)及半導(dǎo)體薄膜的厚度、折射率及消光系數(shù)等。 ]'Eg2(wy 精度：0.4%或1埃 rd0Fd+t/ 測量速度：秒級