| infotek | 2021-11-25 09:40 |
TMT/MOBIE成像光譜儀的概念設計階段雜散光分析緒論 寬視場光學光譜儀(MOBIE)是視覺受限的光學光譜儀，它是為第一代Thirty Meter Telescope (TMT)儀器而設計的。目前MOBIE儀器處于概念設計階段。本文記錄了成像模塊配置中雜散光分析的進展。在項目的這一階段雜散光分析的目標是提供預期的雜散光背景的基線評估。為此，我們完成了四個量的雜散光計算： 關鍵物體的識別 預估雜散光背景 離軸抑制特性 鬼像的形成 分析基于一個完整的系統(tǒng)模型（盡管簡化過）的端到端光線追跡，包括帽型圓頂、望遠鏡光學器件、支撐結構、MOBIE儀器光學器件和外殼。  圖1 完整的TMT-MOBIE雜散光分析模型 TMT-MOBIE幾何模型 端到端系統(tǒng)模型如圖2所示（隱藏了圓頂壁）。MOBIE儀器的成像模塊配置如圖3所示。一對大氣色散校正（ADC）棱鏡剛好位于視場光闌孔徑的前面。視場光闌是一個彎曲的掩膜，與TMT焦面的曲率相匹配，且傳輸5.4±2.1弧分×±4.8弧分的矩形視場。視場光闌是儀器內部主要的雜散光控制機構。反射瞄準儀（MC-1）沿著視場光闌。二色分束鏡透射和反射光線到紅色和藍色鏡頭部件中。隨后折疊到折射式照相機裝置中。  圖2 圓頂內部 簡化的模型只包含可能被MOBIE儀器看到的元件  圖3 MOBIE儀器模型 表面屬性指定 反射鏡表面具有一層鋁涂層，平均反射率在90%。透鏡表面具有一個理想的抗反射涂層，在每個面上反射1%的入射通量。光學表面被分配了兩個散射函數(shù)。Harvey2 BSDF模擬了由RMS微粗糙3導致的散射。米散射模型使用一個IEST-STD-1246D顆粒尺寸分布函數(shù)來模擬由微粒污染4,5導致的散射。非光學表面的處理從黑漆到光滑的白色而有所不同。 | |