| 天藍(lán)色3230 |
2022-11-13 18:00 |
光學(xué)系統(tǒng)降敏設(shè)計(jì)方法綜述
光學(xué)系統(tǒng)性能的有效實(shí)現(xiàn)不僅依靠成像質(zhì)量的設(shè)計(jì)結(jié)果，還受制于光學(xué)加工公差、裝配公差、環(huán)境公差等多種公差的可實(shí)現(xiàn)性。具備低誤差敏感度特征的光學(xué)系統(tǒng)，公差精度要求寬松，可以更好地抵抗誤差引起的像質(zhì)退化，在降低制造成本的同時(shí)，有效地提高了光學(xué)系統(tǒng)的可實(shí)現(xiàn)性，因此降低誤差敏感度是光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)應(yīng)考慮的重要環(huán)節(jié)。本文分析了光學(xué)系統(tǒng)誤差敏感度研究現(xiàn)狀，總結(jié)了典型的光學(xué)系統(tǒng)降敏方法，并對(duì)這些方法在光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的應(yīng)用進(jìn)行概述。最后，對(duì)光學(xué)系統(tǒng)低誤差敏感度設(shè)計(jì)方法的未來(lái)發(fā)展進(jìn)行了展望。
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