| cyqdesign |
2007-04-17 10:36 |
雙偏振極化干涉測量技術在生物醫(yī)學及材料科學方面的應用
雙偏振極化干涉測量分析系統(tǒng)(Dual Polarisation Interferometry, DPI)是英國farfield sensors公司自2000年以來陸續(xù)推出的AnaLight系列產品[1]。目前,在國內大陸地區(qū)還未有該系列產品的應用。由于其在實時測量分子間(生物分子間、生物大分子與藥物小分子等)相互作用,表面結構分析方面均具有靈敏、即時、信息豐富的特點,DPI系統(tǒng)越來越廣泛地應用在生物、醫(yī)學及材料科學方面。 ?%[@Qb=2 "@0]G<H
雙偏振極化干涉測量分析系統(tǒng)(DPI)的原理[1,2] S_UIO.K DPI是基于光的Thomas Yuong干涉現(xiàn)象發(fā)明的。如圖,光通過平行相鄰的兩片薄層光導介質傳播,光線穿過光導介質后發(fā)生干涉產生相應的干涉條紋,用適當?shù)墓鈾z測器可以得到動態(tài)的干涉條紋變化信息。如果在其中一個的表面上(傳感面)固定了分子,或者表面固定的分子與溶液中的物質發(fā)生了相互作用,光在此介質中的傳播就會受到影響,由此產生不同的干涉條紋信號。 yN(%-u"
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