透鏡缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

近日，國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，歌爾光學(xué)科技有限公司申請一項名為“透鏡缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)”的專利，公開號 CN 119251156 A，申請日期為2024年9月。 JGD{cr[S  
專利摘要顯示，本申請公開了一種透鏡缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，涉及頭戴顯示設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，方法包括：獲取透鏡圖像，并從所述透鏡圖像中確定目標(biāo)缺陷區(qū)域；對所述目標(biāo)缺陷區(qū)域進行灰度方差計算，得到計算結(jié)果；根據(jù)所述計算結(jié)果確定所述目標(biāo)缺陷區(qū)域的缺陷檢測結(jié)果，其中，所述缺陷檢測結(jié)果為模糊化缺陷或非模糊化缺陷。本申請能夠確定透鏡缺陷的真實情況，以提高透鏡缺陷檢測的準(zhǔn)確性。 Z_Ma|V?6