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2007-05-09 20:39

X-射線熒光分析顯微鏡介紹

主要用途： 1.固體、液體樣品的成分、結(jié)構(gòu)及成份分布 2.Na-U元素的定性及定量分析 3.可做幾種圖像：①元素分布圖；②透射X光像；③光學(xué)顯微鏡像 4.相分析（相結(jié)構(gòu)）地質(zhì)考古、寶石鑒定、電子元器件、集成電路、刑事偵察、物證鑒定、金屬、非金屬材料成份分析及元素分布、環(huán)境監(jiān)測、生物醫(yī)學(xué)
儀器類別： 03040108 /儀器儀表 /光學(xué)儀器 /顯微鏡 /熒光顯微鏡
指標(biāo)信息：元素分析范圍：Na11～U92 儀器靈敏度：幾十ppm X射線束斑直徑：10μm或100μm 最大樣品尺寸：100×100×30mm 掃描范圍：512×512μm～100×100μm 射線對樣品：無損傷、無污染。

儀器特點：
1.大氣狀態(tài)下分析，不需對樣品進行處理
2.不破壞、不污染分析貴重樣品
3.同時分析樣品的成份和結(jié)構(gòu)
4.可對樣品進行點分析和從微觀級到宏觀級的面分析