高效超表面實(shí)現(xiàn)光場參數(shù)同步獲取

在Yanjun Bao教授和aojun Li教授的指導(dǎo)下，暨南大學(xué)研究團(tuán)隊(duì)開發(fā)出一種基于超表面的新型成像方法，可在單次曝光中同時(shí)測量任意光場的強(qiáng)度、相位和偏振態(tài)。該技術(shù)突破了傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)需復(fù)雜裝置與多次測量的局限性，相關(guān)成果發(fā)表于《國家科學(xué)評論》。 q{LF>Wi  
光場作為電磁波具有偏振、強(qiáng)度和相位三項(xiàng)基本特性，對此三參數(shù)的精準(zhǔn)成像是生物醫(yī)學(xué)診斷、通信傳輸及光學(xué)探測等領(lǐng)域的重要基礎(chǔ)。傳統(tǒng)光參數(shù)測量技術(shù)多依賴于包含分束器、波片、偏振片等多項(xiàng)大型光學(xué)元件的復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)，需通過多次測量才能獲取完整信息。 `kXs;T6&