| infotek | 2025-05-28 08:00 |
用于光學(xué)檢測(cè)的斐索干涉儀斐索干涉儀是工業(yè)上常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，通常用于高精度測(cè)試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下，我們建立了一個(gè)Fizeau干涉儀，并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面，例如圓柱形和球形表面。結(jié)果表明，表面輪廓對(duì)干涉條紋的產(chǎn)生是敏感的。  建模任務(wù)  | |