| infotek | 2025-06-25 08:05 |
受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡原理 受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡描述了一種常用的技術(shù)，以實現(xiàn)在生物應(yīng)用的超分辨率。在這種方法中，兩束激光—一束正常，一束轉(zhuǎn)變成甜甜圈模式—被疊加到熒光樣品上。通過使用熒光過程的發(fā)射和損耗以及利用由此產(chǎn)生的飽和效應(yīng)，與通常的顯微鏡技術(shù)(例如，寬視場顯微鏡)相比，后反射光顯示出更高的分辨率。在本文檔中，介紹了這種設(shè)備的基本設(shè)置。為了模擬飽和效應(yīng)，在焦點區(qū)域采用等效孔徑。 任務(wù)說明  多重光源  螺旋相位板  探測器插件  參數(shù)運(yùn)行  為了實現(xiàn)焦點區(qū)域的z-掃描，可以執(zhí)行參數(shù)運(yùn)行。使用此工具，用戶可以輕松改變整個光學(xué)系統(tǒng)的單個參數(shù)或一組參數(shù)。有關(guān)詳細(xì)信息，請參閱： Usage of the Parameter Run Document 非時序建模  將通道配置模式切換設(shè)置為Manual Configuration后，用戶可以為系統(tǒng)中的每個表面指定為模擬打開哪些通道。運(yùn)行模擬時，將對活動光路進(jìn)行初步分析（通過所謂的Light Path Finder）。然后引擎將沿著這些光路將場追蹤到系統(tǒng)中存在的探測器。 Channel Setting for Non-Sequential Tracing 總結(jié) – 組件…   系統(tǒng)觀感  發(fā)射&損耗激光  光在焦點區(qū)域中的傳播表明，來自損耗激光的光會產(chǎn)生環(huán)形光斑，其中中心孔徑小于發(fā)射激光的焦斑。由于兩個光束在目標(biāo)上的熒光過程中競爭，這導(dǎo)致信號激光的有效光束尺寸更小。 3D STED 輪廓 | |