單光子反聚束測(cè)量系統(tǒng)與方法
近日，國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，安徽省太微量子科技有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“基于ADC采集卡的單光子反聚束測(cè)量系統(tǒng)與方法”的專利，公開(kāi)號(hào)CN120489356A，申請(qǐng)日期為2025年05月。 qGgdWDn`
專利摘要顯示，本發(fā)明提供了一種基于ADC采集卡的單光子反聚束測(cè)量方法與系統(tǒng)，主要用于采集并分析單光子光信號(hào)的二階關(guān)聯(lián)函數(shù)。與傳統(tǒng)的單光子探測(cè)方法相比，本發(fā)明采用了中間觸發(fā)模式的高速ADC采集卡，在減少冗余數(shù)據(jù)的同時(shí)提高了數(shù)據(jù)采集效率。該系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)采集單元、數(shù)據(jù)讀取模塊、數(shù)據(jù)處理中心和算法執(zhí)行模塊，其中數(shù)據(jù)采集單元通過(guò)共聚焦顯微鏡系統(tǒng)采集單光子信號(hào)，并利用SPAD探測(cè)器將光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。ADC采集卡采用中間觸發(fā)模式，能夠在設(shè)定的有效采樣區(qū)間內(nèi)精確觸發(fā)采樣，避免傳統(tǒng)采樣模式中存在的大量冗余數(shù)據(jù)；在精確采集數(shù)據(jù)的同時(shí)更好地保證時(shí)間序列的完整性。
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