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2010-01-03 17:14

現(xiàn)行光學元件檢測與國際標準(作者:徐德衍,王青)

《現(xiàn)行光學元件檢測與國際標準》重點介紹了光學元件檢測領域的近期進展、方法、技術和需求。全書共10章，主要論述了現(xiàn)代光學的發(fā)展對光學元件檢測的需求；計量概念與誤差及精度的必要知識；光學元件檢測基礎；光學元件的參數(shù)檢測和性能檢測的現(xiàn)行技術，側(cè)重對特殊元件、光學表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等內(nèi)容的敘述；介紹了光學元件技術要求和檢測要求的國際標準（ISO10110）的最新內(nèi)容和相關的輔助資料。《現(xiàn)行光學元件檢測與國際標準》附錄匯總了光學檢測中4個常用的資料及相關的參考書籍。
《現(xiàn)行光學元件檢測與國際標準》可供從事光學、光學工程（尤其光學制造技術與檢驗）的科技人員與工藝技術人員參考，也可供大專院校有關專業(yè)的師生閱讀。
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現(xiàn)行光學元件檢測與國際標準目錄
序
前言
第1章概論光學元件的現(xiàn)代發(fā)展及其對光學檢測的需求
1.1 現(xiàn)代光學檢測的重要性
1.1.1 光學元件檢測的重要性
1.1.2 光學元件檢測儀器與技術現(xiàn)狀
1.2 現(xiàn)代光學元件制造發(fā)展的特點
1.2.1 以多功能、精密化為特點的大型化甚至巨型化光學工程和儀器牽引著現(xiàn)代光學制造業(yè)的發(fā)展
1.2.2 以大批量化、產(chǎn)業(yè)化為特征的小型和超小型化的光學元件及大型和超大型化的光學元件需求量猛增
1.2.3 以多樣化、高精度為特點的各種光學元件對光學制造與檢測提出了全新的要求
1.3 現(xiàn)代光學元件檢測技術的需求
1.3.1 大平面光學元件的檢測
1.3.2 大球面光學元件的檢測