| owenchang |
2010-05-26 15:04 |
OptiLayer軟件包的三個模塊以及設(shè)計(jì)流程
最快優(yōu)化最好薄膜設(shè)計(jì)軟件OptiLayer《用戶手冊》 l g-X:Z.
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來自俄羅斯的最強(qiáng)大光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件OptiLayer，是鍍膜工藝專家、數(shù)學(xué)家和軟件高手的精華之作，采用獨(dú)特的針式算法，計(jì)算速度超快，設(shè)計(jì)能力超強(qiáng)，迄今，還沒有一種薄膜OptiLayer不能設(shè)計(jì)。目前國外非常流行！ t]YC"% [S
自1993年起，隸屬美國光學(xué)學(xué)會（OSA）的OIC（Optical Interface Coating）組織，定期舉辦光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)大賽（OIC contest），所有優(yōu)勝者的共同特點(diǎn)是都使用了基于針式優(yōu)化設(shè)計(jì)理論的OptiLayer軟件！ <"_d ]?,
OptiLayer軟件包的三個模塊 e:5bzk!~
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一、OptiLayer 模塊 O)jWZOVp >
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OptiLayer 模塊的功能同大多數(shù)軟件差不多，不同處在于：1.能解決其它軟件不能再優(yōu)化的問題；2.運(yùn)算速度快，比同時期的同類軟件快數(shù)百倍。其具體原因可參考針式算法專題。 #Jw1IcuH
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二、OptiChar模塊 HBMhtfWW
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OptiChar模塊主要通過鍍膜材料實(shí)測光學(xué)特性參數(shù)(某波段范圍內(nèi)的反射率和透過率曲線)給出一評估曲線，再通過在某一基底下，考察給定薄膜理論中一些因素(厚度、折射率、消光系數(shù)和不均一性)時，擬合出在當(dāng)前考察因素下，最接近鍍膜材料實(shí)測出的光譜特性評估曲線的層材料光譜特性曲線，進(jìn)而給出此時的層材料模型(包含層材料的厚度、折射率、消光系數(shù)和不均一性)。擬合得越好則給出的層材料模型越接近當(dāng)前鍍膜條件下的實(shí)際情況。 hK_LEwd;
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且在考察和不考察某一因素時，如果擬合狀況無多大變化，則說明當(dāng)前考察的光學(xué)特性(反射或透過)對該因素不敏感。即該因素對當(dāng)前考察的光學(xué)特性無多大影響。因而再利用該層材料作設(shè)計(jì)且為當(dāng)前考察的光學(xué)特性時，可以忽略該因素的影響而不去考慮它。 u4 /kR
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如上表即薄膜理論中最重要的一些因素：不均一性、消光系數(shù)和表面粗糙度對某一層材料實(shí)際測得的光譜特性(反射和透過)的影響程度。由上表我們可知在利用該層材料模型做設(shè)計(jì)時，若設(shè)計(jì)只考慮反射時，則該三因素中只需考慮不均一性；同理若設(shè)計(jì)只考慮透過時，則該三因素中需考慮不均一性和消光系數(shù)。 XR;eY:89
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三、OptiRE模塊 c5u@pvSP
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OptiRE這一模塊為工程反演，其主要目的為向生產(chǎn)過程提供一個回饋。 =_:et 0
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OptiRE中采用一差異函數(shù)比較設(shè)計(jì)模型光譜特性和生產(chǎn)后薄膜實(shí)驗(yàn)測得的光譜特性， OptiRE的工程反演運(yùn)算法則是基于使該差異函數(shù)值最小。（OptiLay模塊的優(yōu)化設(shè)計(jì)則是優(yōu)化比較理論和目標(biāo)光譜特性的評價函數(shù)值） CW,Wx:
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