光學(xué)測量光學(xué)測頭的應(yīng)用與發(fā)展趨勢
傳統(tǒng)的接觸式三坐標(biāo)測量機(jī)自1956年問世以來，已經(jīng)經(jīng)過了50多年的發(fā)展。目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)車間及科研部門當(dāng)中。隨著工業(yè)技術(shù)的不斷進(jìn)步，對測量設(shè)備的各方面要求也不斷提高，三坐標(biāo)測量機(jī)在此過程中也經(jīng)歷了無數(shù)次的技術(shù)創(chuàng)新以適應(yīng)更高的測量要求。盡管如此，當(dāng)今三坐標(biāo)測量機(jī)依然在某些方面遇到了一定的技術(shù)瓶頸。這些瓶頸的產(chǎn)生不能簡單地歸結(jié)于技術(shù)創(chuàng)新的不足，其主因在于接觸式三坐標(biāo)測量機(jī)的硬件結(jié)構(gòu)和測量原理上的限制。 _Q1p_sdg
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傳統(tǒng)三坐標(biāo)測量機(jī)配備最多的是觸發(fā)式測頭，用觸發(fā)式測頭測量物體時(shí)，測針以一定速度接觸物體表面，從而使測針的位置產(chǎn)生偏離，產(chǎn)生的電信號觸發(fā)測頭記錄一個(gè)物體表面測點(diǎn)的空間坐標(biāo)。由此帶來的第一個(gè)問題就是測量速度較慢。其原因在于，首先觸發(fā)式測頭的采點(diǎn)方式是非連續(xù)的，測頭在一次采點(diǎn)完成后需退回一段距離，讓測針歸位后才能進(jìn)行第二次采點(diǎn)。而且采點(diǎn)時(shí)接觸物體表面的速度不能太快，若測針接觸物體速度過快使得測針的位置偏離過大，則信號會被認(rèn)為是發(fā)生了碰撞而采點(diǎn)失敗。出于這個(gè)原因可以用掃描式測頭代替觸發(fā)式測頭，掃描式測頭采用的是連續(xù)采點(diǎn)方式，因此采點(diǎn)速度得到較大提升。購買后，將顯示帖子中所有出售內(nèi)容。 GNJ /|9
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