上圖為理論上的隨機(jī)偏振Rayleigh相分布，橙色標(biāo)記的角度范圍表示探測(cè)器在縱軸方向上的延展區(qū)域。該角度范圍內(nèi)的光強(qiáng)分布被探測(cè)器記錄（探測(cè)器長(zhǎng)度為1mm，與樣本距離為0.2mm）。將理論值與MSP.DLL計(jì)算結(jié)果相疊加，如右圖所示，可以看出仿真結(jié)果與理論值相符。

實(shí)例2

將隨機(jī)偏振的入射光設(shè)置為垂直線偏光（在光源物體的物體屬性 > 光源標(biāo)簽欄中設(shè)置）將得到完全不同的分布結(jié)果：

如右下圖所示，MSP.DLL模擬的Rayleigh散射和偏振結(jié)果與理論值相符。

實(shí)例3

在上文的實(shí)例中我們看到了相函數(shù)和輸入光偏振的相關(guān)性。我們可以進(jìn)一步驗(yàn)證不同入射光偏振態(tài)下的散射分布變化：假設(shè)同樣還是隨機(jī)偏振光入射，但使用偏振探測(cè)的方法，只接收于偏振方向與探測(cè)器局部Y軸方向一致的偏振光（在矩形探測(cè)器中，設(shè)置偏振參數(shù)為2）。結(jié)果如下圖所示：