從薄膜原理、設(shè)計(jì)到工藝
當(dāng)收到需求者的光學(xué)規(guī)格及非光學(xué)規(guī)格如環(huán)境測(cè)試要求時(shí),既可以著手選用所需的基板,鍍膜材料及膜數(shù)與厚度設(shè)計(jì)。設(shè)計(jì)開(kāi)始可以從標(biāo)準(zhǔn)模系著手,例如高反射鏡不管波寬大小,開(kāi)始我們一定是以四分之一波膜堆為設(shè)計(jì)基礎(chǔ),倘若是截止濾光片,則應(yīng)以對(duì)稱膜堆為設(shè)計(jì)基礎(chǔ)。
9. 薄膜制備技術(shù) 9.1 常見(jiàn)薄膜制備技術(shù) 9.2 光學(xué)薄膜制備流程 9.3 淀積技術(shù) 9.4 工藝因素 10. 誤差、容差與光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù) 10.1 光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù) 10.2 誤差分析與監(jiān)控決策 10.3 Runsheet 與 Simulator應(yīng)用技巧 10.4 膜系靈敏度分析 10.5 膜系容差分析 10.6 誤差分析工具 11. 反演工程 11.1 鍍膜過(guò)程中兩種主要的誤差(系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差) 11.2 使用反演工程來(lái)控制對(duì)設(shè)計(jì)的搜索 12. 應(yīng)力、張力、溫度和均勻性工具 12.1 光學(xué)性質(zhì)的熱致偏移 12.2 應(yīng)力工具 12.3 均勻性誤差(圓錐工具、波前問(wèn)題) 13. Function功能擴(kuò)展 13.1 如何在Function中編寫(xiě)操作數(shù) 13.2 如何在Function中編寫(xiě)腳本 14. 光學(xué)薄膜特性測(cè)量 14.1 薄膜光學(xué)常數(shù)的測(cè)量 14.2 薄膜堆積密度的測(cè)量 14.3 薄膜微觀結(jié)構(gòu)分析 14.4 薄膜成分分析 14.5 薄膜硬度、附著性及耐摩擦性的測(cè)量 14.6 薄膜表面粗糙度的測(cè)量 15. 項(xiàng)目管理與應(yīng)用實(shí)例 15.1 項(xiàng)目管理 15.2 光學(xué)薄膜項(xiàng)目開(kāi)發(fā)過(guò)程 15.3 客戶需求分析 15.4 文檔管理與報(bào)表生成 15.5 【案例分析】Macleod 軟件在太陽(yáng)能薄膜中的應(yīng)用 15.6 【案例分析】Macleod 軟件在激光薄膜設(shè)計(jì)分析中的應(yīng)用 15.7 【案例分析】Macleod 軟件在光電功能薄膜中的應(yīng)用 15.8 仿生蛾眼結(jié)構(gòu)在顯示技術(shù)上的應(yīng)用 15.9 OLED薄膜及微腔效應(yīng) 15.10 金屬線柵偏振器 16. Q&A |

1.行業(yè)新聞、市場(chǎng)分析。 2.新品新技術(shù)(最新研發(fā)出來(lái)的產(chǎn)品技術(shù)介紹,包括產(chǎn)品性能參數(shù)、作用、應(yīng)用領(lǐng)域及圖片); 3.解決方案/專業(yè)論文(針對(duì)問(wèn)題及需求,提出一個(gè)解決問(wèn)題的執(zhí)行方案); 4.技術(shù)文章、白皮書(shū),光學(xué)軟件運(yùn)用技術(shù)(光電行業(yè)內(nèi)技術(shù)文檔);
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