摘 要 ：冷反射是評價制冷型紅外光學系統(tǒng)成像質(zhì)量的一個重要參數(shù)。分析 了制冷紅外光學系統(tǒng)產(chǎn)生冷反射的原 因， 討論了在光學設(shè)計軟件中對冷反射現(xiàn)象的控制與分析方法； 提出了采用逆光路追跡光線的方法分析光學系統(tǒng)中 各個光學表面產(chǎn)生的冷反射大小； 設(shè)計了一個工作在長波紅外波段的制冷型光學系統(tǒng)，系統(tǒng)焦距為 1 2 0 n l m； 采用逆光 路追跡像點彌散的方法分析了光學系統(tǒng)各個表面產(chǎn)生的冷反射大小。其結(jié)果與采用光學設(shè)計軟件給 出的冷反射評 價參數(shù) Y NI與I ／I b a r 、以及利用經(jīng)驗公式計算得到的結(jié)果一致， 且采用逆光路追跡分析冷反射的方法更加直觀。 ;Y7' U rn
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關(guān)鍵詞 ：光學設(shè)計；紅外光學系統(tǒng)；冷反射；Y N
