近日，據(jù)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局公告，深圳中科飛測(cè)科技股份有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)”發(fā)明專利，申請(qǐng)公布號(hào)CN117433427A，申請(qǐng)日期為2023-07-21。

專利摘要顯示，本發(fā)明實(shí)施例提供的一種光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，包括：光源、調(diào)整模塊、第一檢測(cè)模塊、第二檢測(cè)模塊和采集模塊。所述光源用于產(chǎn)生或引入測(cè)量用光。所述調(diào)整模塊用于調(diào)整光線。所述第一檢測(cè)模塊和所述第二檢測(cè)模塊用于對(duì)光線進(jìn)行擴(kuò)束整形。并且第二檢測(cè)模塊的擴(kuò)束整形能力強(qiáng)于所述第一檢測(cè)模塊的擴(kuò)束整形能力。所述采集模塊可以采集光學(xué)數(shù)據(jù)。本發(fā)明實(shí)施例具有測(cè)量精度高、倍率調(diào)節(jié)區(qū)間大的特點(diǎn)。

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