隨著電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)尺寸越來(lái)越小，目前出現(xiàn)了兩個(gè)特別引人注目的問(wèn)題︰一是可接觸的電路節(jié)點(diǎn)越來(lái)越少；二是像在線(xiàn)測(cè)試（ In-Circuit-Test ）這些方法的應(yīng)用受到限制。為了解決這些問(wèn)題，可以在電路布局上采取相應(yīng)的措施，采用新的測(cè)試方法和采用創(chuàng)新性適配器解決方案。 a*0gd-e0@  
　　通過(guò)遵守一定的規(guī)程（ DFT-Design for Testability ，可測(cè)試的設(shè)計(jì)），可以大大減少生產(chǎn)測(cè)試的準(zhǔn)備和實(shí)施費(fèi)用。這些規(guī)程已經(jīng)過(guò)多年發(fā)展，當(dāng)然，若采用新的生產(chǎn)技術(shù)和組件技術(shù)，它們也要相應(yīng)的擴(kuò)展和適應(yīng)。本文主要介紹電路可測(cè)試性的相關(guān)知識(shí)，以及如何提高電路可測(cè)試性。 w&8gA[y*u  
　　1、什么是可測(cè)試性 {a- 台北县| 汶川县| 清原| 墨玉县| 平舆县| 察隅县| 四川省| 镇安县| 永兴县| 弥渡县| 扶余县| 孝感市| 射洪县| 大厂| 南皮县| 灵山县| 天长市| 吉木乃县| 张家界市| 进贤县| 新津县| 肥西县| 临漳县| 吴旗县| 永兴县| 政和县| 广宁县| 上思县| 延吉市| 泸定县| 长葛市| 岗巴县| 青阳县| 进贤县| 沾益县| 林甸县| 天全县| 高尔夫| 惠州市| 曲麻莱县| 天柱县|