隨著
電子產品結構尺寸越來越小，目前出現(xiàn)了兩個特別引人注目的問題︰一是可接觸的
電路節(jié)點越來越少；二是像在線測試（ In-Circuit-Test ）這些方法的應用受到限制。為了解決這些問題，可以在電路布局上采取相應的措施，采用新的測試方法和采用創(chuàng)新性適配器解決方案。
1H-Wk 通過遵守一定的規(guī)程（ DFT-Design for Testability ，可測試的設計），可以大大減少生產測試的準備和實施費用。這些規(guī)程已經過多年發(fā)展，當然，若采用新的生產技術和組件技術，它們也要相應的擴展和適應。本文主要介紹電路可測試性的相關知識，以及如何提高電路可測試性。
D,IT>^[^7 1、什么是可測試性
dS1HA>c)O 可測試性的意義可理解為︰測試工程師可以用盡可能簡單的方法來檢測某種組件的特性，看它能否滿足預期的功能。簡單地講就是︰
P& 1$SWNyW l．檢測產品是否符合技術規(guī)范的方法簡單化到什幺程度？
hb3n-
r O 編制測試程序能快到什幺程度？
YnpN
-Y%g 發(fā)現(xiàn)產品故障全面化到什幺程度？
J6#h~fp
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