世界頂級高精度薄膜光學(xué)測量儀器FilmTek系列產(chǎn)品，廠商：美國SCI 公司 qzqv-{.h  
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可測參數(shù)： gI^*O@Q4{b  
1）單層或多層薄膜(可達(dá)50層)，厚度 （<1Å to 250 um) o3l_&?^  
2）反射率R和透射率T 7>J8\=  
3）折射率n和吸收系數(shù)k 6l>$N?
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4）能帶間隙 m>6,{g
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5）表面粗糙度和損傷度 ^1S(6'a#  
6）成份和結(jié)晶程度 JQ8wL _C>  
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適用于高精度的薄膜量測，廣泛應(yīng)用于OLED, LCD, 半導(dǎo)體行業(yè)和光電行業(yè)等。 eg-,;X#  
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聯(lián)系方式：中電網(wǎng)EMD(半導(dǎo)體設(shè)備與材料部) 上海辦 #^v|u3^DD  
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