世界頂級高精度薄膜光學(xué)測量儀器FilmTek系列產(chǎn)品，廠商：美國SCI 公司 hpL;bM'  
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可測參數(shù)： x{WD;$J  
1）單層或多層薄膜(可達50層)，厚度 （<1Å to 250 um) TBU&6M>{3  
2）反射率R和透射率T UByv?KZi  
3）折射率n和吸收系數(shù)k K0Fh%Y4)QH  
4）能帶間隙 WaR`Kp+>  
5）表面粗糙度和損傷度 *,WU?tl&  
6）成份和結(jié)晶程度 /J6rv((  
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適用于高精度的薄膜量測，廣泛應(yīng)用于OLED, LCD, 半導(dǎo)體行業(yè)和光電行業(yè)等。 OX\F~+  
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聯(lián)系方式：中電網(wǎng)EMD(半導(dǎo)體設(shè)備與材料部) 上海辦 5(HG|  
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