圖片:納米壓痕儀.jpg

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1，儀器簡介： :Cx|(+T  
美國NANOVEA公司的納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。可適用于有機或無機、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學(xué)薄膜，微電子鍍膜，保護(hù)性薄膜，裝飾性薄膜等等。基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物和有機材料等。 /W*Z.  
2，技術(shù)參數(shù)： QD3tM5(Yr  
載荷范圍：0-400mN @.i#uMWF`  
載荷分辨率：30nN [[^95:  
最大壓入深度：250um Wq+GlB*  
位移分辨率： 0.003nm g=t7YQq_~  
3，主要特點： Nc4;2~XwRp  
帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng) zdU46|!u  
靈活的試樣夾具可夾持各種尺寸試樣 Z|x
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高質(zhì)量光學(xué)顯微鏡觀測系統(tǒng) 6|B9kh}  
計算機軟件包，自動進(jìn)行數(shù)據(jù)獲取、儲存、分析等 豐富、靈活的擴(kuò)展空間 w< Xwz`O  
4，選件： vC@^B)
5gb  
其它力學(xué)測試模塊（如微納米劃痕、微納米摩擦磨損儀，納米劃痕等） Xj{fM\,"9  
環(huán)境(溫度、濕度）控制 6i+,/vr  
原子力顯微鏡成像系統(tǒng) (&Lt&i _  
三維表面形貌儀掃描系統(tǒng) g<;::'6  
環(huán)境隔離罩 y2jw3R  
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5，公司簡介： d,l?{Ln  
美國NANOVEA儀器公司二十年來致力于為全球材料、物理、機械工作者提供先進(jìn)、精準(zhǔn)、全面的材料機械性質(zhì)測試儀器、分析咨詢以及測試服務(wù)。我們的主要產(chǎn)品包括： w$9LcN  
測量材料硬度和彈性模量的納米級、微米級壓痕測試儀（納米壓痕儀, 顯微壓痕儀）； 3 1-p/  
界定膜基結(jié)合強度、薄膜抗劃擦能力的納米級、微米級、大載荷劃痕測試儀 (Scratch tester) ； 包括高溫以及線性往復(fù)運動等選項的摩擦磨損測試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗機 ； 高端膜厚測試儀； 用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦三維表面形貌儀。 I-g/)2  
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關(guān)鍵詞：納米壓痕儀，微米壓痕儀，納米劃痕儀，微米劃痕儀，納米摩擦磨損測試儀，微米摩擦磨損測試儀，納米力學(xué)測試系統(tǒng)，微納米力學(xué)測試系統(tǒng) M+VWAh#uD  
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型號：NMT UQ0<sI=  
EZ|v,1`e  
聯(lián)系人：劉蕊                 聯(lián)系方式：010-53203403 ;9h;oB@  
                                         13933947304

圖片:納米壓痕儀.jpg

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                                         15652958313 #I453  
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