Intelliwave,是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件,通常用于量測許多表面(材料)的外形。
&\K#UVDyhh liB>~DVC Intelliwave 干涉條紋分析仿真軟件
y@z#Jw< K=>/(sWiq Intelliwave是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件,通常用于量測許多表面(材料)的外形(或是其他特性),包括鏡子、透鏡、半導(dǎo)體芯片、和其它許多反射或不反射的表面。為了推斷鏡片表面外形,Intelliwave需要制造一個光學(xué)相位差來獲得干涉圖形,因為干涉條紋圖是干涉儀中的測試光及參考光的光程差而形成,藉著干涉圖形的處理,主要在于鑒定待測光學(xué)儀器的表面外型。Intelliwave 結(jié)合了攫取、輸入、分析、以及許多實際干涉圖形文檔等等特性,更提供了強大、快速、靈活性、容易使用、還有廣泛數(shù)據(jù)信息的優(yōu)點。
v>P){VT nC Z Intelliwave 應(yīng)用的領(lǐng)域:
zC^Ib&gm>, abv] 高功率激光的外型和反射特性的量測
OWkK]O u!S{[7 FY 極溫度( Extreme Temperature)的應(yīng)用
P$QfcJq&c* ={oO9.9 天文上的應(yīng)用 : 天文鏡片、天文望遠鏡
lqs_7HhvRS *]=)mM# 光學(xué)量測
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0H g<-cHF 對于非球狀光學(xué)結(jié)構(gòu)有高分辨率
32Z4&~I iB`m!g6$ 在半導(dǎo)體上的應(yīng)用
'mM5l*{ ij),DbWd 全像攝影
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光學(xué)纟統(tǒng)的動態(tài)控制
>j?uI6Uw tpD?-`9o Cutting Edge Research and Development
b6(yyYdF rG]Xgq" Mom and Pop Application
Sq'z<}o ;D7jE+ Intelliwave 功能說明:
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