對于高平行度透/反射類元件，在布儒斯特角或者正入射情況下檢測時會出現(xiàn)因為后表面多次反射而產(chǎn)生的自
干涉條紋問題，形成多組自干涉條紋，測試干涉條紋和自干涉條紋相互疊加。在測試的干涉條紋中帶有很明顯的自干涉條紋，造成最終的檢測波面出現(xiàn)數(shù)據(jù)的丟失，會嚴重影響到面形的計算。
`M&P[ .9Pz $; ?c?n+ 為了防止檢測時候自干涉條紋的產(chǎn)生，一般都在加工時候使
光學元件前后兩個面的楔角大于1′，這樣就能防止后表面的多次反射產(chǎn)生的影響，但是對于一些特殊要求的
光學元件，平行度要求都比較高（優(yōu)于20″或更小），這就要求通過合適的檢測方法來解決自干涉條紋的問題。
* -0>3 T/ik/lFI 對于反射類的高平行度光學元件，檢測的時候可以在后表面涂凡士林，可以防止自干涉條紋的影響，但是對于透射/反射類
鍍膜元件，后表面涂凡士林會對表面的質量造成污損，所以無法采用這種方法進行檢測。
7%e1cI ;AKwx|I$g Zygo干涉儀中的多表面傅里葉變換移相干涉方法(FTPSI)可以區(qū)分面形的測量（
波長移相干涉儀中），從多組條文中解包出待測面形。但對對待測元件的入射
角度、元件的平行度和厚度有特殊要求，在我們檢測過程中有些元件也無法測量。這種測量方法的好處還可以測量平行度比較好的
材料光學均勻性，具體測量方法可參見附件zygo說明書。
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VeriFire MST PSurf and PHom Application Manual 0486_B.rar (1270 K) 下载次数:34 vd`O aM}#U 6,X+1EXY 4D公司的FizCam2000動態(tài)干涉儀采用短相干
光源，工作波長為658nm，通過調整其延遲光路（光程的匹配ΔL），可以實現(xiàn)定位干涉，即可以選定被測表面對其進行精確測量。其光源相干長度約300um, 對于厚度大于0.3mm的平行平板，可以避免后表面多次反射而產(chǎn)生的自干涉條紋，進行有效精確地測量。
ML=eL*}l a"x}b 以上是在檢測過程中使用方法的總結和建議，希望可以與大家一起分享、交流、學習！
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