近日，據(jù)國家知識產(chǎn)權局信息顯示，上海中科飛測半導體科技有限公司取得一項名為“光學系統(tǒng)以及檢測設備”的專利，授權公告號CN 222105753 U，申請日期為2024年4月。

專利摘要顯示，一種光學系統(tǒng)以及檢測設備，涉及光學檢測技術領域，光學系統(tǒng)包括：光源模塊、至少兩個視場光闌以及驅(qū)動組件，驅(qū)動組件與每個視場光闌連接，每個視場光闌的孔徑大小均不相同；光源模塊被配置為提供照明光束；驅(qū)動組件被配置為驅(qū)動至少一個視場光闌切入或切出光源模塊的出射光路，該視場光闌被配置為限制光源模塊提供的照明光束的光束尺寸。通過設置至少兩個視場光闌，可以根據(jù)需要檢測的結構的尺寸，通過驅(qū)動組件將對應的視場光闌切入光源模塊的輸出光路，實現(xiàn)對照明光束的尺寸調(diào)整，對最終的光斑大小進行調(diào)整。

圖片:CN222105753U_2024208026140_1.png